W 2012 roku uzyskał tytuł profesora nauk technicznych.
Kierownik Wydziałowego Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur od 2006 roku (przekształcony w Katedrę Nanometrologii). Jest to jedyna w Polsce grupa badawcza zorganizowana wokół kompleksowych badań metrologicznych mikro- i nanostruktur. W badaniach wykorzystywane są mikroskopia bliskich oddziaływań, mikroskopia elektronowa i jonowa skojarzone z metodami i technikami pomiarów właściwości elektrycznych, termicznych, dyfrakcyjnych oraz optycznych.
Teodor Gotszalk był opiekunem Studenckiego Stowarzyszenia Naukowego Polskich Entuzjastów Nanotechnologii (SPENT). Był recenzentem paneli eksperckich w europejskich programach metrologicznych European Metrology Programme for Innovation and Research (EMPIR), programach Unii Europejskiej (6,7 Programach Ramowych) oraz w programie Horyzont 2020, Europejskiej Fundacji Naukowej (ang. European Science Foundation-ESF), Europejskiej Rady Naukowej (ang. European Research Councli-ERC), i Narodowego Centrum Nauki (NCN).