thumb|Mikroskop AFM thumb|Obraz AFM: rdzeń Pentium MMX thumb|Zdjęcie AFM powierzchni CD thumb|Obraz uzyskany za pomocą AFM: powierzchnia DVD thumb|Dysk twardy 3,2 i 30 Gb obrazowany za pomocą MFM. Mikroskop sił atomowych (ang. atomic force microscope, AFM) – rodzaj mikroskopu ze skanującą sondą (ang. scanning probe microscope, SPM). Umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni ze zdolnością rozdzielczą rzędu wymiarów pojedynczego atomu dzięki wykorzystaniu sił oddziaływań międzyatomowych, na zasadzie przemiatania ostrza nad lub pod powierzchnią próbki.
Mikroskop ten skonstruowali Gerd Binnig, Calvin F. Quate i Christoph Gerber w 1986 roku.
Zasada działania thumb|Wizualizacja AFM powierzchni kauczuku polisiloksanowego, wykonanego w trybie kontaktu przerywanego.
Postęp w badaniach naukowych, jaki przyniosło skonstruowanie skaningowego mikroskopu tunelowego (ang. scanning tunnelling microscope, STM), stał się inspiracją do dalszych poszukiwań. Twórcy pierwszego mikroskopu sił atomowych wpadli na pomysł, że do obrazowania powierzchni można by wykorzystać siły oddziaływania międzyatomowego.