Efekt ten jest nazywany kontrastem Z.
Uzyskanie wysokiej próżni dla poprawnej obserwacji przy pomocy STEM jest konieczne.
Aparatura
Standardowa aparatura wykorzystywana w metodach STEM musi zawierać:
źródło wiązki pierwotnej (działo elektronowe) detektor zależy od wybranej metody układ próżniowy układ zasilający i chłodzący
Bibliografia R.W. Kelsall, I.W. Hamley, M. Geoghegan: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008. .
Zobacz też
Transmisyjny mikroskop elektronowy Skaningowy mikroskop elektronowy Spektroskopia strat energii elektronów EELS
Kategoria:Mikroskopy