Historia Do lat 60. XX wieku, wszystkie pomiary energii kinetycznej fotoelektronów dotyczyły metali i innych ciał stałych. Około 1956 roku Kai Siegbahn rozwinął spektroskopię fotoelektronów w zakresie rentgenowskim (XPS, x-ray photoelectron spectroscopy) do analiz składu powierzchni. Metoda ta polega na próbkowaniu poziomów energetycznych elektronów wewnętrznych (niewalencyjnych) pierwiastków za pomocą promieniowania X (rentgenowskiego). W tym czasie rozdzielczość metody wynosiła ok. 1 eVT.A. Carlson, Photoelectron and Auger Spectroscopy, Plenum Press, 1975, ..
Spektroskopia fotoelektronów w ultrafiolecie została stworzona przez D.W. Turnera (chemik fizyczny, Imperial College London) do badania niezwiązanych cząsteczek w fazie gazowej. Swoje wyniki zaprezentował on w serii publikacji z lat 1962–1967J.W. Rabalais, Principles of Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy, Wiley, 1977, .D.W. Turner, Molecular Photoelectron Spectroscopy, Wiley, 1970.. Jako źródło fotonów użył lampy helowej emitującej promieniowanie z zakresu dalekiego nadfioletu o λ=58,4 nm (odpowiadającemu energii 21,2 eV). Rozdzielczość energetyczna układu Turnera wynosiła 0,02 eV.