Mikroskopija skenirajućom sondom (MSS) (engl. Scanning Probe Microscopy - SPM) je oblast mikroskopije koja se zasniva na upotrebi mjernog uređaja neke fizičke veličine (sonda), čijim se relativnim kretanjem u odnosu na snimani uzorak (skeniranje) vrši mjerenje vrijednosti fizičke veličine u ravnomjerno raspoređenim tačkama uzorka. Na tom osnovu se rekonstruiše izgled površine (mjerene fizičke veličine) za cijeli uzorak.
Na principu MSS rade savremeni elektronski mikroskopi, ali i mikroskop atomskih sila i skenirajući tunelski mikroskop. Razlika između ovih tehnologija je u konstrukciji sonde i izboru fizičke veličine na osnovu koje se vrši rekonstrukcija izgleda uzorka.
Mnogi skenirajući mikroskopi mogu istovremeno snimati nekoliko interakcija. Način korištenja ovih interakcija za dobijanje slike se obično naziva mod. mini|Lasersko skeniranje skenirajućeg fotostrujnog mikroskopa
Reference
Vanjski linkovi Mikroskopija skenirajućom sondom, autor John W. Cross Mikroskopija skenirajućom sondom, na Institute of Food Research Karakterizacija u nanotehnologiji, pojedini pdf Osvrt na STM/AFM/SNOM principe, sa obrazovnim Flash animacijama SPM Image Gallery - AFM STM SEM MFM NSOM i drugi Kako SPM radi SPM Scan Image Galerija SPM Glosar SPM galerija: surface scans, collages, artworks, desktop wallpapers SPM Applications: Image Gallery SPM Scan Image Galerija SPM Scan Image Galerija
Kategorija:Nanotehnologija