Un microscopio de sonda de barrido (también llamado SPM por sus siglas en inglés Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio electrónico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. La rama de microscopios SPM se fundó con la invención del microscopio de efecto túnel en 1981.
Su uso en investigaciones científicas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm).
Tipos de SPM Hay gran variedad de microscopios de sonda de barrido, siendo los principales:
AFM, Microscopio de fuerza atómica (atomic force microscopy) Contact AFM Non-contact AFM Dynamic contact AFM Tapping AFM BEEM, ballistic electron emission microscopy CFM, chemical force microscopy C-AFM, conductive atomic force microscopy ECSTM electrochemical scanning tunneling microscope EFM, electrostatic force microscopy FluidFM, fluidic force microscopehttp://www.fluidfm.comhttp://www.nanosurf.com/fluidfmhttp://www.cytosurge.com FMM, force modulation microscopy FOSPM, feature-oriented scanning probe microscopy KPFM, kelvin probe force microscopy MFM, magnetic force microscopy MRFM, magnetic resonance force microscopy
NSOM, Microscopio óptico de campo cercano (near-field scanning optical microscopy o SNOM, scanning near-field optical microscopy) PFM, Piezoresponse Force Microscopy PSTM, photon scanning tunneling microscopy PTMS, photothermal microspectroscopy/microscopy SCM, scanning capacitance microscopy SECM, scanning electrochemical microscopy SGM, scanning gate microscopy SHPM, scanning Hall probe microscopy SICM, scanning ion-conductance microscopy SPSM spin polarized scanning tunneling microscopy SSRM, scanning spreading resistance microscopy SThM, scanning thermal microscopy STM, Microscopio de efecto túnel (scanning tunneling microscopy) STP, scanning tunneling potentiometryVorlesungsskript Physikalische Elektronik und Messtechnik (en alemán) SVM, scanning voltage microscopy SXSTM, synchrotron x-ray scanning tunneling microscopy SSET Scanning Single-Electron Transistor Microscopy
De estas técnicas, AFM y STM son los más comúnmente utilizados para las mediciones de rugosidad.
Véase también IN-VSEE
Notas
sonda de barrido Categoría:Ciencia de los años 1980 Categoría:1981