材料分析法の一覧:
μSR - ミュオンスピン回転（muon spin rotation） χ - 磁化率を参照
A Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析 AAS - 原子吸光分光（Atomic absorption spectroscopy） AED - オージェ電子回折（Auger electron diffraction） AES - オージェ電子分光（Auger electron spectroscopy） AFM - 原子間力顕微鏡（Atomic force microscope|Atomic force microscopy） AFS - 原子蛍光分光（Atomic fluorescence spectroscopy） APFIM - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Atom probe field ion microscopy） APS - 出現電位分光（Appearance potential spectroscopy） ARPES - 角度分解光電子分光（Angle resolved photoemission spectroscopy） ARUPS - 角度分解紫外光電子分光（Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy） ATR -（Attenuated total reflectance）
B BET - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来) BiFC - （Bimolecular fluorescence complementation） BKD - 後方散乱菊池回折（Backscatter Kikuchi diffraction）、EBSDを参照 BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動（Bioluminescence resonance energy transfer） BSED - 後方散乱電子回折（Back scattered electron diffraction）、EBSDを参照
C CAICISS - 同軸型直衝突イオン散乱分光（Coaxial impact collision ion scattering spectroscopy） CARS - （Coherent anti-Stokes Raman spectroscopy） CBED - 収束電子回折（Convergent beam electron diffraction） CCM - Charge collection microscopy（Charge collection microscopy） CDI - （Coherent diffraction imaging） CE - キャピラリー電気泳動（Capillary electrophoresis） CET - クライオ電子線トモグラフィー（Cryo-electron tomography） CL - カソードルミネッセンス（Cathodoluminescence） CLSM - 共焦点レーザー走査型顕微鏡（Confocal laser scanning microscopy） COSY - COSY（Correlation spectroscopy） Cryo-EM - クライオ電子顕微鏡（Cryo-electron microscopy） Cryo-SEM - （Cryo-scanning electron microscopy） CV - サイクリックボルタンメトリー（Cyclic voltammetry）
D DE(T)A - Dielectric thermal analysis dHvA - ドハース・ファンアルフェン効果（De Haas–van Alphen effect） DIC - 微分干渉顕微鏡（Differential interference contrast microscopy） Dielectric spectroscopy - DLS - （Dynamic light scattering） DLTS - 深い準位過渡分光（Deep-level transient spectroscopy） DMA - （Dynamic mechanical analysis） DPI - （Dual polarisation interferometry） DRS - 拡散反射分光（Diffuse reflection spectroscopy） DSC - 示差走査熱量測定（Differential scanning calorimetry） DTA - 示差熱分析（Differential thermal analysis） DVS - （Dynamic vapour sorption）
E EBIC - （Electron beam induced current） 、IBIC（ion beam induced charge）も参照 EBS - 弾性（非ラザフォード）後方散乱分光（Elastic (non-Rutherford) backscattering spectrometry）、RBSを参照。 EBSD - 電子後方散乱回折（Electron backscatter diffraction） ECOSY - ECOSY（Exclusive correlation spectroscopy） ECT - 電気容量トモグラフィ（Electrical capacitance tomography） EDAX - エネルギー分散型X線分析（Energy-dispersive analysis of x-rays） EDMR - （Electrically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照 EDS、EDX - エネルギー分散型X線分光（Energy dispersive X-ray spectroscopy） EELS - 電子エネルギー損失分光（Electron energy loss spectroscopy） EFTEM - （Energy filtered transmission electron microscopy） EID - 電子誘起脱離（Electron induced desorption） EIT、ERT - 電気インピーダンス・トモグラフィ（Electrical impedance tomography）、（Electrical resistivity tomography） EL - エレクトロルミネセンス（Electroluminescence） Electron crystallography - ELS - （Electrophoretic light scattering） ENDOR - （Electron nuclear double resonance） EPMA - 電子線マイクロアナライザ（Electron probe microanalysis） EPR - 電子常磁性共鳴（Electron paramagnetic resonance） ERD、ERDA - （Elastic recoil detection）または弾性反跳検出分析（Elastic recoil detection） ESCA - 化学分析のための電子分光（Electron spectroscopy for chemical analysis）*XPSを参照 ESD - 電子刺激脱離（Electron stimulated desorption） ESEM - 環境制御型走査電子顕微鏡（Environmental scanning electron microscopy） ESI-MS、ES-MS - エレクトロスプレーイオン化質量分析法（Electrospray ionization mass spectrometry）、エレクトロスプレー質量分析法（Electrospray mass spectrometry） ESR - 電子スピン共鳴 ESTM - 電気化学走査型トンネル顕微鏡（Electrochemical scanning tunneling microscopy） EXAFS - 広域X線吸収微細構造（Extended X-ray absorption fine structure） EXSY - EXSY（Exchange spectroscopy）
F FCS - 蛍光相関分光法（Fluorescence correlation spectroscopy） FCCS - （Fluorescence cross-correlation spectroscopy） FEM - （Field emission microscopy） FIB - 集束イオンビーム（Focused ion beam） FIM-AP - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Field ion microscopy-atom probe） Flow birefringence - Fluorescence anisotropy - FLIM - （Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy） Fluorescence microscopy - 蛍光顕微鏡 FOSPM - Feature-oriented scanning probe microscopy FRET - 蛍光共鳴エネルギー移動（Fluorescence resonance energy transfer） FRS - 前方反跳分光（Forward Recoil Spectrometry）、ERDと同義 FTICR、FT-MS - フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計（Fourier transform ion cyclotron resonance）、フーリエ変換質量分析（Fourier transform mass spectrometry） FTIR - フーリエ変換赤外分光（Fourier transform infrared spectroscopy）
G GC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法（Gas chromatography-mass spectrometry） GD-MS - グロー放電質量分析法（Glow discharge mass spectrometry） GD-OES - グロー放電発光分光（Glow discharge optical spectroscopy） GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱（Grazing incidence small angle X-ray scattering） GIXD - すれすれ入射X線回折（Grazing incidence X-ray diffraction） GIXR - すれすれ入射X線反射率測定（Grazing incidence X-ray reflectivity） GLC - 気液クロマトグラフィー（Gas-liquid chromatography）
H HAADF - 高角環状暗視野像（high angle annular dark-field imaging） HAS - （Helium atom scattering） HPLC - 高速液体クロマトグラフィー（High performance liquid chromatography） HREELS - （High resolution electron energy loss spectroscopy） HREM - 高分解能電子顕微鏡（High-resolution electron microscopy） HRTEM - （High-resolution transmission electron microscopy） HI-ERDA - 重イオン弾性反跳検出分析（Heavy-ion elastic recoil detection analysis） HE-PIXE - 高エネルギー陽子励起X線放出（High-energy proton induced X-ray emission）
I IAES - イオン励起オージェ電子分光（Ion induced Auger electron spectroscopy） IBA - （Ion beam analysis） IBIC - イオンビーム誘起電荷顕微鏡（Ion beam induced charge microscopy） ICP-AES - 誘導結合プラズマ発光分析（Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy） ICP-MS - 誘導結合プラズマ質量分析（Inductively coupled plasma mass spectrometry） Immunofluorescence - ICR - （Ion cyclotron resonance） IETS - （Inelastic electron tunneling spectroscopy） IGA - Intelligent gravimetric analysis IGF - 不活性ガス融解（Inert gas fusion） IIX - イオン励起X線分析（Ion induced X-ray analysis）:粒子線励起X線分析を参照 INS - 非弾性中性子散乱（Inelastic neutron scattering）、イオン中和分光（Ion neutralization spectroscopy） IRNDT - （Infrared non-destructive testing of materials） IRS - 赤外分光法（Infrared spectroscopy） ISS - イオン散乱分光（Ion scattering spectroscopy） ITC - 等温滴定カロリメトリー（Isothermal titration calorimetry） IVEM - 中間電圧電子顕微鏡（Intermediate voltage electron microscopy）
L LALLS - （Low-angle laser light scattering） LC-MS - 液体クロマトグラフィー-質量分析（Liquid chromatography-mass spectrometry） LEED - 低速電子線回折（Low-energy electron diffraction） LEEM - （Low-energy electron microscopy） LEIS - （Low-energy ion scattering） LIBS - レーザー誘起ブレークダウン分光（Laser induced breakdown spectroscopy） LOES - Laser optical emission spectroscopy LS - 光散乱（Light (Raman) scattering）
M MALDI - マトリックス支援レーザー脱離イオン化法（Matrix-assisted laser desorption/ionization） MBE - 分子線エピタキシー法（Molecular beam epitaxy） MEIS - 中エネルギーイオン散乱（Medium energy ion scattering） MFM - 磁気力顕微鏡（Magnetic force microscopy） MIT - 磁気誘導断層撮影（Magnetic induction tomography） MPM - 多光子蛍光顕微鏡（Multiphoton fluorescence microscopy） MRFM - 磁気共鳴力顕微鏡（Magnetic resonance force microscopy） MRI - 核磁気共鳴画像法（Magnetic resonance imaging） MS - 質量分析法（Mass spectrometry） MS/MS - （Tandem mass spectrometry） MSGE - Mechanically Stimulated Gas Emission Mossbauer spectroscopy - メスバウアー分光（Mossbauer spectroscopy） MTA - （Microthermal analysis）
N NAA - 中性子放射化分析（Neutron activation analysis） Nanovid microscopy - Nanovid microscopy ND - 中性子回折（Neutron diffraction） NDP - （Neutron depth profiling） NEXAFS - 吸収端近傍X線吸収微細構造（Near edge X-ray absorption fine structure） NIS - 中性子非弾性散乱（Nuclear inelastic scattering） NMR - 核磁気共鳴分光法（Nuclear magnetic resonance spectroscopy） NOESY - 核オーバーハウザー効果分光（Nuclear Overhauser effect spectroscopy） NRA - 核反応法（Nuclear reaction analysis） NSOM - 走査型近接場光顕微鏡（Near-field scanning optical microscopy）
O OBIC - （Optical beam induced current） ODNMR - 光検出磁気共鳴（Optically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照 OES - 発光分光（Optical emission spectroscopy） Osmometry -
P PAS - （Positron annihilation spectroscopy） Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光（Photoacoustic spectroscopy） PAT or PACT - 光音響トモグラフィー（Photoacoustic tomography）または光音響コンピュータトモグラフィー（photoacoustic computed tomography） PAX - Photoemission of adsorbed xenon PC or PCS - 光電流分光（Photocurrent spectroscopy） Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡（Phase contrast microscopy） PhD - 光電子回折（Photoelectron diffraction） PD - 光脱離（Photodesorption） PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy PDS - 光熱偏向分光法（Photothermal deflection spectroscopy） PED - 光電子回折（Photoelectron diffraction） PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光（parallel electron energy loss spectroscopy） PEEM - 光電子顕微鏡（Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy) PES - 光電子分光（Photoelectron spectroscopy） PINEM - 光子誘起近接場電子顕微鏡法（photon-induced near-field electron microscopy） PIGE - 粒子線励起ガンマ線放出（Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy）、 核反応法を参照 PIXE - 粒子線励起X線分析（Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy） PL - フォトルミネッセンス（Photoluminescence） Porosimetry - ポロシメトリー（Porosimetry） Powder diffraction - （Powder diffraction） PTMS - （Photothermal microspectroscopy） PTS - 光熱変換分光法（Photothermal spectroscopy）
Q QENS - （Quasielastic neutron scattering）
R Raman - ラマン分光法（Raman spectroscopy） RAXRS - （Resonant anomalous X-ray scattering） RBS - ラザフォード後方散乱分光（Rutherford backscattering spectrometry） REM - 反射電子顕微鏡（Reflection electron microscopy） RDS - （Reflectance Difference Spectroscopy） RHEED - 反射高速電子線回折（Reflection high energy electron diffraction） RIMS - （Resonance ionization mass spectrometry） RIXS - （Resonant inelastic X-ray scattering） RR spectroscopy - （Resonance Raman spectroscopy）
S SAD - 制限視野回折（Selected area diffraction） SAED - 制限視野電子回折（Selected area electron diffraction） SAM - 走査型オージェ顕微鏡（Scanning Auger microscopy） SANS - （Small angle neutron scattering） SAXS - X線小角散乱（Small angle X-ray scattering） SCANIIR - 粒子衝撃光放射（Surface composition by analysis of neutral species and ion-impact radiation） SCEM - （Scanning confocal electron microscopy） SE - 分光エリプソメトリー（Spectroscopic ellipsometry） SEC - サイズ排除クロマトグラフィー（Size exclusion chromatography） SEIRA - 表面増強赤外吸収分光（Surface enhanced infrared absorption spectroscopy） SEM - 走査型電子顕微鏡（Scanning electron microscopy） SERS - 表面増強ラマン散乱（Surface enhanced Raman spectroscopy） SERRS - 表面増強共鳴ラマン散乱（Surface enhanced resonance Raman spectroscopy） SEXAFS - （Surface extended X-ray absorption fine structure） SICM - （Scanning ion-conductance microscopy） SIL - ソリッドイマージョンレンズ（Solid immersion lens） SIM - ソリッドイマージョンミラー（Solid immersion mirror） SIMS - 二次イオン質量分析法（Secondary ion mass spectrometry） SNMS - スパッタ中性粒子質量分析（Sputtered neutral species mass spectrometry） SNOM - 走査型近接場光顕微鏡（Scanning near-field optical microscopy） SPECT - 単一光子放射断層撮影（Single photon emission computed tomography） SPM - 走査型プローブ顕微鏡（Scanning probe microscopy） SRM-CE/MS - 選択反応検出-キャピラリー電気泳動質量分析法（Selected-reaction-monitoring capillary-electrophoresis mass spectrometry） SSNMR - 固体核磁気共鳴（Solid-state nuclear magnetic resonance） Stark spectroscopy - シュタルク分光 STED - 誘導放出抑制顕微鏡（Stimulated Emission Depletion microscopy） STEM - 走査型透過電子顕微鏡（Scanning transmission electron microscopy） STM - 走査型トンネル顕微鏡（Scanning tunneling microscopy） STS - 走査型トンネル分光法（Scanning tunneling spectroscopy） SXRD - （Surface X-ray Diffraction）
T TAT or TACT - 熱音響トモグラフィー（Thermoacoustic tomography）または熱音響コンピュータトモグラフィー（thermoacoustic computed tomography）、光音響トモグラフィー(PAT)も参照 TEM - 透過型電子顕微鏡（transmission electron microscopy） TGA - 熱重量分析（Thermogravimetric analysis） TIKA - Transmitting ion kinetic analysis TIMS - （Thermal ionization mass spectrometry） TIRFM - 全反射照明蛍光顕微鏡（Total internal reflection fluorescence microscopy） TLS - 熱レンズ分光（Photothermal lens spectroscopy）、光熱分光の一種 TMA - （Thermomechanical analysis） TOF-MS - 飛行時間型質量分析計（Time-of-flight mass spectrometry） Two-photon excitation microscopy - 2光子励起顕微鏡（Two-photon excitation microscopy） TXRF - 全反射蛍光X線（Total reflection X-ray fluorescence）
U Ultrasound attenuation spectroscopy - Ultrasonic testing - 超音波探傷検査（Ultrasonic testing） UPS - 紫外光電子分光法（UV-photoelectron spectroscopy） USANS - 超小角中性子散乱（Ultra small-angle neutron scattering） USAXS - 超小角X線散乱（Ultra small-angle X-ray scattering UV-Vis - 紫外可視分光法（Ultraviolet-visible spectroscopy)
V VEDIC - Video-enhanced differential interference contrast microscopy Voltammetry - ボルタンメトリー
W WAXS - （Wide angle X-ray scattering）