thumb|Padrão de difração de raios X formados quando um feixe de raio X é focalizado sobre uma amostra cristalina, neste caso uma proteína. Cada ponto é formado devido à interferência construtiva dos raios X espalhados quando atravessam o material cristalino.|alt=Padrão de difração de raios X formados quando um feixe de raio X é focalizado sobre uma amostra cristalina, neste caso uma proteína. Cada ponto é formado devido à interferência construtiva dos raios X espalhados quando atravessam o material cristalino.|direita|x300px|link= Difração de raios X Técnicas de espalhamento de raios X são uma família de técnicas analíticas não destrutivas o qual revela informações sobre a estrutura dos cristais, composições químicas, propriedades físicas dos materiais e filmes estreitos. Essas técnicas são baseadas em observações da intensidade de espalhamento dos feixes de raio X que atingem uma amostra como uma função da incidência, ângulo de espalhamento, polarização e comprimento de onda ou energia.
A difração de raios X é geralmente considerado um subconjunto do espalhamento de raios X, onde o espalhamento elástico de um objeto cristalino tem como resultado padrões contendo pontos estreitos analisados por cristalografia de raios X (como mostrado na figura). Entretanto, ambos espalhamento e difração são fenômenos que estão relacionados e sua distinção nem sempre pode ser feita. Desta maneira, o clássico texto de GuinierGuinier, A. (1963). X-ray diffraction in Crystals, Imperfect Crystals and Amorphous Bodies. San Francisco: W.H. Freeman & Co. de 1963 titulado por "Difração de raios X em cristais, cristais imperfeitos e corpos amorfos", diz respeito à difração que não estava claramente restrita aos cristais naquele momento. __FORCETOC__
Técnicas de espalhamento Espalhamento elástico Difração de raios X ou mais especificamente, difração de raios X a grandes ângulos (Wide-angle X-ray diffraction, WAXD). Espalhamento de raios X a baixos ângulos (Small-angle X-ray scattering, SAXS), analisa estruturas na faixa de nanômetros para micrômetros medindo a intensidade de espalhamento em ângulos de 2θ próximos de 0°. Espalhamento de raios X a grandes ângulos (Wide-angle X-ray scattering, WAXS), uma técnica que se concentra ângulos de dispersão de 2θ maiores que 5°.
Espalhamento Inelástico (Inelastic X-ray scattering, IXS)
Em IXS a energia e o ângulo de espalhamento inelástico de raios X são monitorados, dando o fator de estrutura dinâmica S(q,ω). A partir disso, muitas propriedades dos materiais podem ser obtidas, propriedades específicas dependendo da escala de energia transferida. A tabela abaixo, lista técnicas adaptadas de . Espalhamento inelástico de raios X possuem fases intermediárias e então em princípio são úteis para cristalografia de raios X. Em prática, transferência de raios X de baixas energias incluem pontos de difração devido ao espalhamento elástico, e transferência de raios X de altas energias contribuem para o ruído de fundo nos padrões de difração. TécnicaEnergia típica incidente (keV)Faixa de energia transferida (eV)Informação em:Espalhamento Compton1001,000Forma de superfície de fermiRessonante IXS (RIXS)4-200.1 - 50Estrutura eletrônica e excitaçõesNão ressonante IXS (NRIXS)100.1 - 10Estrutura eletrônica e excitações Espalhamento de raios X Raman1050 - 1000Estrutura da camada de absorção, ligação e valênciaAlta resolução IXS100.001 - 0.1Dinâmica atômica e dispersão de phonon
Categoria:Raios X