miniatura|dreapta|300px|Un difractometru de raze X Cristalografia de raze X este o tehnică cristalografică utilizată pentru determinarea structurii atomice și moleculare a unui cristal. La baza tehnicii se află ideea că structura cristalină cauzează fascicolul incident de raze X să se difracte în mai multe direcții specifice. Prin măsurarea unghiurilor și a intensităților acestor raze difractate, se poate obține o imagine tridimensională a densității electronice din cristalul respectiv. Se pot determina astfel pozițiile atomilor în cristal, tipurile de legături chimice și se pot deduce alte informații variate. Se utilizează in mineralogie, stiința materialelor, catalizăThe reaction network in propane oxidation over phase-pure MoVTeNb M1 oxide catalysts. Journal of Catalysis, 311, 369-385, https://pure.mpg.de/rest/items/item_1896844_6/component/file_1896843/contentSurface chemistry of phase-pure M1 MoVTeNb oxide during operation in selective oxidation of propane to acrylic acid. Journal of Catalysis, 285, 48-60, https://pure.mpg.de/rest/items/item_1108560_8/component/file_1402724/content ba chiar si in istoria de arte si arheologie.
Istoric
Metode
Vezi și Legea lui Bragg Difracția electronilor Difracție de raze X
Referințe
Categorie:Cristalografie Categorie:Difracție Categorie:Raze X