Mikroskop sił bocznych (ang. Lateral Force Microscopy - LFM) - modyfikacja mikroskopu sił atomowych (AFM) działająca w trybie kontaktowym. W klasycznej wersji AFM wychylenie belki dźwigni, na końcu której znajduje się igła pomiarowa, podczas jej ruchu po badanym materiale, rejestrowane jest tylko w pionie i daje informację o topografii powierzchni. W mikroskopii sił bocznych uwzględniane jest również skręcenie belki spowodowane oddziaływaniem sił bocznych na przesuwającą się po materiale igłę (ruch jest prostopadły do osi belki na płaszczyźnie badanego materiału). Siły boczne wynikają z siły tarcia igły po materiale oraz z napotykanych nierówności powierzchni. Umożliwia to badanie współczynników tarcia materiałów oraz analizę topografii powierzchni.
Detektor PSPD Do wykrywania położenia belki wykorzystywany jest, tak jak w mikroskopii AFM, promień lasera, który po odbiciu od belki pada na fotodetektor PSPD (ang. Position-Sensitive Photodetector). Zmiany położenia punktu padania wiązki lasera na detektor przetwarzane są na informację o położeniu belki.