Sygnały uzyskane dla przejazdów w przeciwnych kierunkach odejmuje się lub dodaje co powoduje, odpowiednio, wygaszenie składowych od nierówności i podwojenie od tarcia lub wygaszenie składowych od tarcia i podwojenie od nierówności.
Przypisy
Bibliografia G. Haugstad, Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications, Hoboken, New Jersey: John Wiley & Sons, Inc., 2012. D. Halliday, R. Resnick, J. Walker, F. Edwards, J. J. Merrill, Fundamentals of Physics, vol. I, John Wiley & Sons, Inc, 1960.
Kategoria:Mikroskopy