La norma MIL-STD-883 estableix mètodes, controls i procediments uniformes per provar dispositius microelectrònics adequats per al seu ús en sistemes electrònics militars i aeroespacials, incloent-hi proves ambientals bàsiques per determinar la resistència als efectes nocius dels elements naturals i les condicions que envolten les operacions militars i espacials; proves mecàniques i elèctriques; procediments de mà d'obra i formació; i altres controls i restriccions que s'hagin considerat necessaris per garantir un nivell uniforme de qualitat i fiabilitat adequat a les aplicacions previstes d'aquests dispositius. Per a aquesta norma, el terme "dispositius" inclou microcircuits monolítics, multixip, de pel·lícula i híbrids, matrius de microcircuits i els elements a partir dels quals es formen els circuits i les matrius. Aquesta norma està pensada per aplicar-se només a dispositius microelectrònics.
L'estàndard va ser publicat pel Departament de Defensa dels EUA.
Proves ambientals, mètodes 1001-1034 1001 Pressió baromètrica reduïda (funcionament en altitud) 1002 Immersió 1003 Resistència d'aïllament 1004.7 Resistència a la humitat 1005.8 Vida en estat estacionari 1006 Vida intermitent 1007 D'acord amb la vida 1008.2 Cocció d'estabilització 1009.8 Atmosfera salina 1010.8 Cicle de temperatura 1011.9 Xoc tèrmic 1012.1 Característiques tèrmiques 1013 Punt de rosada 1014.13 Segell 1015.10 Prova de cremat 1016.2 Proves de caracterització de la vida útil/fiabilitat 1017.2 Irradiació de neutrons 1018.6 Anàlisi de gasos interns 1019.8 Procediment de prova de radiació ionitzant (dosi total) 1020.1 Procediment de prova de bloqueig induït per taxa de dosi 1021.3 Proves de pertorbació de taxa de dosi de microcircuits digitals 1022 Tensió llindar MOSFET 1023.3 Resposta a la taxa de dosi de microcircuits lineals 1030.2 Pre-segellat en cremat 1031 Prova de corrosió de pel·lícula fina 1032.1 Procediment de prova d'errors suaus induïts per paquets 1033 Prova de vida útil i resistència 1034.1 Prova de penetració de colorants
Proves mecàniques, mètodes 2001-2036 2001.2 Acceleració constant 2002.3 Xoc mecànic 2003.7 Soldabilitat 2004.5 Integritat del client potencial 2005.2 Fatiga per vibració 2006.1 Soroll de vibració 2007.2 Vibració, freqüència variable 2008.1 Visual i mecànic 2009.9 Visual extern 2010.10 Visual intern (monolític) 2011.7 Resistència d'enllaç (prova d'arrossegament d'enllaç) 2012.7 Radiografia 2013.1 Inspecció visual interna per a DPA 2014 Visual i mecànic intern 2015.14 Resistència als dissolvents Dimensions físiques del 2016 2017.7 Visual intern (híbrid) 2018.3 Inspecció de la metal·lització amb microscopi electrònic de rastreig (SEM) 2019.5 Resistència al cisallament de la matriu 2020.7 Prova de detecció de soroll d'impacte de partícules (PIND) 2021.3 Integritat de la capa de glassivació 2022.2 Soldabilitat de l'equilibri humit 2023.5 Estirament d'enllaç no destructiu 2024.2 Parell de torsió de la tapa per a envasos segellats amb frita de vidre 2025.4 Adherència de l'acabat de plom 2026 Vibració aleatòria 2027.2 Força d'adhesió del substrat 2028.4 Prova de tracció de plom destructiva del paquet de pins de la quadrícula 2029 Força d'unió del portador de xips de ceràmica 2030 Inspecció ultrasònica de la fixació de matrius 2031.1 Prova d'arrencada de xip giratori 2032.1 Inspecció visual d'elements passius 2035 Inspecció ultrasònica d'enllaços TAB 2036 Resistència a la calor de soldadura
Proves elèctriques (digitals), mètodes 3001-3024 3001.1 Font d'accionament, dinàmica 3002.1 Condicions de càrrega 3003.1 Mesures de retard 3004.1 Mesures de temps de transició 3005.1 Corrent d'alimentació 3006.1 Tensió de sortida d'alt nivell 3007.1 Tensió de sortida de baix nivell 3008.1 Tensió de ruptura, entrada o sortida 3009.1 Corrent d'entrada, nivell baix 3010.1 Corrent d'entrada, nivell alt 3011.1 Corrent de curtcircuit de sortida 3012.1 Capacitància terminal 3013.1 Mesures del marge de soroll per a dispositius microelectrònics digitals 3014 Proves funcionals 3015.8 Classificació de la sensibilitat a les descàrregues electroestàtiques 3016 Verificació del temps d'activació 3017 Paquet de microelectrònica, transmissió de senyals digitals 3018 Mesures de diafonia per a encapsulats de dispositius microelectrònics digitals 3019.1 Mesures d'impedància de terra i d'alimentació per a paquets de dispositius de microelectrònica digital 3020 Corrent de fuita de sortida de baix nivell i alta impedància (estat desactivat) 3021 Corrent de fuita de sortida d'alta impedància (estat desactivat) d'alt nivell 3022 Tensió de pinça d'entrada 3023.1 Mesures de latch-up estàtic per a dispositius microelectrònics CMOS digitals 3024 Mesures simultànies de soroll de commutació per a dispositius microelectrònics digitals
Referències
Categoria:Estàndards Categoria:Qualitat Categoria:Fabricació de circuits electrònics